1.

国際会議録

国際会議録
Foy, R. ; Pique, J.-P. ; Bellanger, V. ; Chevrou, P. ; Petit, A.D. ; Hoegemann, C.K. ; Noethe, L. ; Schoeck, M. ; Girard, J. ; Tallon, M. ; Thiebaut, E. ; Vaillant, J. ; Foy, F.-C. ; Van Dam, M.
出版情報: Adaptive Optical System Technologies II.  Part One  pp.484-491,  2003.  Bellingham, WA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4839
2.

国際会議録

国際会議録
Engelen, A. ; Socha, R.J. ; Hendrickx, E. ; Scheepers, W. ; Nowak, F. ; Van Dam, M. ; Liebchen, A. ; Faas, D.A.
出版情報: Optical Microlithography XVII.  pp.1323-1333,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5377