1.

国際会議録
国際会議録
1. Cost and yield estimation in a virtual IC factory
V. Axelrad ; Y. Granik ; V.V. Boksha ; J.G. Rollins
出版情報: Microelectronics manufacturability, yield, and reliability : 20-21 October 1994, Austin, Texas.  pp.102-108,  1994.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2334
2.

国際会議録
国際会議録
2. SoC variability evaluation and reduction
A. P. Balasinski ; M. C. Smayling ; V. Axelrad
出版情報: Microelectronics : design, technology, and packaging III : 5-7 December 2007, Canberra, Australia.  pp.67980I-1-67980I-8,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6798