1.
国際会議録
K. Mann ; U. Leinhos ; B. Schäfer
出版情報:
38th Annual Boulder Damage Symposium : proceedings : laser-induced damage in optical materials, 2006 : 25-27 September, 2006, Boulder, Colorado . pp.64031J-1-64031J-10, 2007. Bellingham, Wash.. SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
6403
2.
国際会議録
K. Mann ; A. Bayer ; J. Gloger ; U. Leinhos ; T. Rousseau
出版情報:
Laser-Induced Damage in Optical Materials: 2008 . pp.71321F-1-71321F-11, 2008. Bellingham, Wash.. Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
7132
3.
国際会議録
K. Mann ; A. Bayer ; U. Leinhos ; T. Miege ; B. Schäfer
出版情報:
Optical Microlithography XXI . 2 pp.69242P-1-69242P-10, 2008. Bellingham, Wash.. Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
6924
4.
国際会議録
A. Bayer ; F. Barkusky ; U. Leinhos ; T. Miege ; B. Schäfer
出版情報:
Photon processing in microelectronics and photonics VII : 21-24 January 2008, San Jose, California, USA . pp.68791S-1-68791S-9, 2008. Bellingham, Wash.. Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
6879
5.
国際会議録
K. Mann ; A. Bayer ; T. Miege ; U. Leinhos ; B. Schäfer
出版情報:
Laser-induced damage in optical materials : 2007 : 39th Annual Boulder Damage Symposium : proceedings : 24-26 September, 2007, Boulder, Colorado . pp.67201B-1-67201B-10, 2007. Bellingham, Wash.. Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
6720
国際会議録
