1.

国際会議録
国際会議録
1. *SCANNING TUNNELING MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY OF SEMICONDUCTOR SURFACES
DeMuth, J.E. ; Hamers, R.J. ; Tromp, R.M.
出版情報: Interfaces, superlattices, and thin films : symposium held December 1-6, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.1-12,  1987.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 77
2.

国際会議録
国際会議録
2. ANISOTROPIC DRY ETCHING OF SiO2 ON Si ITS IMPACT ON SURFACE AND NEAR-SURFACE PROPERTIES OF THE SUBSTRATE
Oehrlein, G.S. ; Coyle, G.J. ; Tsang, J.C. ; Tromp, R.M. ; Clabes, J.G. ; Lee, Y.H.
出版情報: Plasma processing : symposium held April 15-18, 1986, Palo Alto, California, U.S.A..  pp.367-380,  1986.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 68
3.

国際会議録
国際会議録
3. STRUCTURE DETERMINATION OF THE Si(111)-CaF2 INTERFACE
Tromp, R.M. ; Krakow, W. ; LeGoues, F.K.
出版情報: High resolution microscopy of materials : symposium held November 29-December 1, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.141-146,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 139