1.

国際会議録
国際会議録
1. CRYSTALLINITY OF ISOLATED SILICON EPITAXY (ISE) SILICON-ON-INSULATOR LAYERS
Allen, L. T. P. ; Zavrachy, P. M. ; Vu, D. P. ; Batty, M. W. ; Henderson, W. R. ; Boden T. J. ; Bowen, D. K. ; Gorden-Smith D. ; Thomas, C. R. ; Tjahjadi, T.
出版情報: Chemistry and defects in semiconductor heterostructures.  pp.409-414,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 148
2.

国際会議録
国際会議録
2. Hue feature-based stereo scheme for detecting half-occlusion and order reversal of objects
Siu, T.P. ; Tjahjadi, T. ; Gu, I.Y.-H.
出版情報: Visual Communications and Image Processing 2003.  Part One  pp.90-101,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5150