1.

国際会議録

国際会議録
Tissot,J.-L. ; Rothan,F. ; Vedel,C. ; Vilain,M. ; Yon,J.-J.
出版情報: Infrared Detectors and Focal Plane Arrays V : 14-17 April 1998, Orlando, Florida.  pp.139-144,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3379
2.

国際会議録

国際会議録
Vedel,C. ; Martin,J.-L. ; Buffet,J.-L.Ouvrier ; Tissot,J.-L. ; Vilain,M. ; Yon,J.-J.
出版情報: Infrared technology and applications XXV : 5-9 April 1999, Orlando, Florida.  pp.276-283,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3698
3.

国際会議録

国際会議録
Agnese,P. ; Buzzi,C. ; Rey,P. ; Rodriguez,L. ; Tissot,J.-L.
出版情報: Infrared technology and applications XXV : 5-9 April 1999, Orlando, Florida.  pp.284-290,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3698
4.

国際会議録

国際会議録
Tissot,J.-L. ; Marion,F.
出版情報: Infrared technology and applications XXVI : 30 July - 3 August 2000, San Diego, USA.  pp.581-586,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4130
5.

国際会議録

国際会議録
Geoffray,H. ; Bardoux,A. ; Laporte,M. ; Tissot,J.-L.
出版情報: Infrared technology and applications XXVI : 30 July - 3 August 2000, San Diego, USA.  pp.527-536,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4130
6.

国際会議録

国際会議録
Tissot,J.-L. ; Martin,J.-L. ; Mottin,E. ; Vilain,M. ; Yon,J.-J. ; Chatard,J.-P.
出版情報: Infrared technology and applications XXVI : 30 July - 3 August 2000, San Diego, USA.  pp.473-479,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4130