1.

国際会議録

国際会議録
Tilsch,M. ; Scheuer,V. ; Biersack,J. ; Tschudi,T.T.
出版情報: Specification, Production, and Testing of Optical Components and Systems.  Part2  pp.585-593,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2775
2.

国際会議録

国際会議録
Tilsch,M. ; Scheuer,V. ; Tschudi,T.T.
出版情報: Optical thin films V : new developments : 30 July-1 August 1997, San Diego, California.  pp.163-175,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3133
3.

国際会議録

国際会議録
Kadkhoda,P. ; Amra,C. ; Bennett,J.M. ; Deumie,C. ; Duparre,A. ; Gliech,S. ; Jolie,C. ; Kessler,H. ; Lauth,H. ; Lindstroem,T. ; Muller,A. ; Reng,N. ; Ribbing,C.G. ; Ristau,D. ; Schuhmann,U. ; Tilsch,M.
出版情報: Optical fabrication and testing : 26-28 May 1999, Berlin, Germany.  pp.548-556,  1999.  Bellingham, WA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3739