1.

国際会議録

国際会議録
Wachter, M. ; Schaffler, F. ; Thonke, K. ; Sauer, R. ; Herzog, H.-J. ; Kasper, E.
出版情報: Silicon-based optoelectronic materials : Symposium held April 12-14, 1993, San Francisco, California, U.S.A..  pp.85-90,  1993.  Pittsburgh, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 298
2.

国際会議録

国際会議録
Dornen, A. ; Kienle, R. ; Thonke, K. ; Stolz, P. ; Pensl, G. ; Grunebau, D. ; Stolwijk, N.A.
出版情報: Impurities, defects, and diffusion in semiconductors : bulk and layered structures : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.21-26,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 163
3.

国際会議録

国際会議録
Schlette, A. ; Kienle, R. ; Dorner, A. ; Kurner, W. ; Thonke, K.
出版情報: Impurities, defects, and diffusion in semiconductors : bulk and layered structures : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.239-244,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 163
4.

国際会議録

国際会議録
Pressel, Klaus ; Bohnert, G. ; Dornen, A. ; Thonke, K.
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.301-306,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
5.

国際会議録

国際会議録
Mauckner, G. ; Hamann, J. ; Rebitzer, W. ; Baier, T. ; Thonke, K. ; Sauer, R.
出版情報: Microcrystalline and nanocrystalline semiconductors : Symposium held November 29-December 2, 1994, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.489-,  1995.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 358
6.

国際会議録

国際会議録
Sternschulte, H. ; Albrecht, T. ; Thonke, K. ; Sauer, R. ; Griesser, M. ; Grasserbauer, M.
出版情報: III-Nitride, SiC, and Diamond Materials for Electronic Devices : symposium held April, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.693-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 423
7.

国際会議録

国際会議録
Weber, S. ; Limmer, W. ; Thonke, K. ; Sauer, R. ; Baier, T. ; Geiger, D. ; Meyer, H. ; Panzlaff, K.
出版情報: Growth, processing, and characterization of semiconductor heterostructures : Symposium held November 29-December 2, 1993, Massachusetts, U.S.A..  pp.489-,  1994.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 326
8.

国際会議録

国際会議録
Thonke, K. ; Kerwien, N. ; Wysmolek, A. ; Potemski, M. ; Waag, A. ; Sauer, R.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices III : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.61-66,  2002.  Warrendale, Pa.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 719
9.

国際会議録

国際会議録
Presting, H. ; Uschmann, J. ; Hepp, M. ; Thonke, K. ; Sauer, R. ; Kibbel, H. ; Cabanski, W. ; Jaros, M.
出版情報: Infrared technology and applications XXIII : 20-25 April, 1997, Orlando, Florida.  Part 2  pp.789-798,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3061