1.

国際会議録

国際会議録
Hau-Riege, S.P. ; Thompson, C.V.
出版情報: Materials, technology and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics : symposium held April 23-27, 2000, San Francisco, California, U.S.A..  pp.D10.2/G7.2-,  2001.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 612
2.

国際会議録

国際会議録
Choi, Z.-S. ; Gan, C.L. ; Wei, F. ; Thompson, C.V. ; Lee, J.H. ; Pey, K.L. ; Choi, W.K.
出版情報: Materials, technology and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics - 2004 : symposium held April 13-15, 2004, San Francisco, California, U.S.A..  pp.373-378,  2004.  Warrendale.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 812
3.

国際会議録

国際会議録
Chang, C.W. ; Gan, C.L. ; Thompson, C.V. ; Pey, K.L. ; Choi, W.K. ; Hwang, N.
出版情報: Materials, technology and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics - 2004 : symposium held April 13-15, 2004, San Francisco, California, U.S.A..  pp.339-344,  2004.  Warrendale.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 812
4.

国際会議録

国際会議録
Choi, Z.-S. ; Chang, C.W. ; Lee, J.H. ; Gan, C.L. ; Thompson, C.V. ; Pey, K.L. ; Choi, W.K.
出版情報: Materials, technology and reliability of advanced interconnects - 2005 : symposium held March 28-April 1, 2005, San Francisco, California, U.S.A..  pp.271-276,  2005.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 863
5.

国際会議録

国際会議録
Wei, F. ; Gan, C.L. ; Thompson, C.V. ; Clement, J.J. ; Hau-Riege, S.P. ; Pey, K.L. ; Choi, W.K. ; Tay, H.L. ; Yu, B. ; Radhakrishnan, M.K.
出版情報: Silicon materials - processing characterization and reliability : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.645-650,  2002.  Warrendale.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 716
6.

国際会議録

国際会議録
Gan, C.L. ; Thompson, C.V. ; Pey, K.L. ; Choi, W.K. ; Wei, F. ; Yu, B. ; Hau-Riege, S.P.
出版情報: Silicon materials - processing characterization and reliability : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.431-438,  2002.  Warrendale.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 716
7.

国際会議録

国際会議録
Hau-Riege, S.P. ; Thompson, C.V.
出版情報: Materials, technology and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics : symposium held April 23-27, 2000, San Francisco, California, U.S.A..  pp.D8.7-,  2001.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 612
8.

国際会議録

国際会議録
Hau-Riege, S.P. ; Thompson, C.V. ; Hau-Riege, C.S. ; Andleigh, V.K. ; Chery, Y. ; Troxel, D.
出版情報: Materials, technology and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics : symposium held April 23-27, 2000, San Francisco, California, U.S.A..  pp.D2.2-,  2001.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 612
9.

国際会議録

国際会議録
Hau-Riege, C.S. ; Thompson, C.V. ; Narieb, T.N.
出版情報: Materials, technology and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics : symposium held April 23-27, 2000, San Francisco, California, U.S.A..  pp.D2.8-,  2001.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 612
10.

国際会議録

国際会議録
Thompson, C.V.
出版情報: Proceedings of the Symposium on the Degradation of Electronic Devices due to Device Operation as well as Crystalline and Process-Induced Defects.  pp.176-180,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-1