1.

国際会議録
国際会議録
1. DISTRIBUTION OF MISFIT DISLOCATIONS IN SiGe ON Si MEASURED WITH SYNCHROTRON-RADIATION TOPOGRAPHY
Capano, M. A. ; Hobbs, L. W. ; Hart, L. ; Gordon-Smith, D. ; Bowen, D. K. ; Thomas, C. R.
出版情報: Heteroepitaxy of dissimilar materials : symposium held April 29-May 2, 1991, Anaheim, California, U.S.A..  pp.363-368,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 221
2.

国際会議録
国際会議録
2. CRYSTALLINITY OF ISOLATED SILICON EPITAXY (ISE) SILICON-ON-INSULATOR LAYERS
Allen, L. T. P. ; Zavrachy, P. M. ; Vu, D. P. ; Batty, M. W. ; Henderson, W. R. ; Boden T. J. ; Bowen, D. K. ; Gorden-Smith D. ; Thomas, C. R. ; Tjahjadi, T.
出版情報: Chemistry and defects in semiconductor heterostructures.  pp.409-414,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 148