1.

国際会議録
国際会議録
1. Spectroscopy on transition-metal defects in silicon
Kleverman,M. ; Thilderkvist,A. ; Grossman,G. ; Grimmeiss,H.G.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.1  pp.125-136,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87
2.

国際会議録
国際会議録
2. The Excited 5T1 State of the Fei｡? -Center in Silicon
Thilderkvist,A. ; Grossmann,G. ; Kleverman,M. ; Grimmeiss,H.G.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.165-170,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
3.

国際会議録
国際会議録
3. The gold center in silicon
Thilderkvist,A. ; Kleverman,M. ; Watkins,G.D. ; Grim-meiss,H.G.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.1  pp.215-220,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87