1.

国際会議録

国際会議録
Chevallier, J. ; Machyekhi, B. ; Grattepain, C. ; Rahbi, R. ; Theys, B.
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.461-466,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
2.

国際会議録

国際会議録
Chevallier, J. ; Theys, B. ; Grattepain, C. ; Deneuville, A. ; Gheeraert, E.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors, II : symposium held April 13-17, 1998, San Francisco, California, U.S.A..  pp.169-,  1998.  Warrendale, Pa.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 510
3.

国際会議録

国際会議録
Paloura, E. C. ; Ginoudi, A. ; Theys, B. ; Chevallier, J. ; Lioutas, C. B. ; Kalomiros, J. ; Lagadas, M. ; Hatzopoulos, Z.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.459-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
4.

国際会議録

国際会議録
Machayekhi, B. ; Chevallier, J. ; Theys, B. ; Besson, J. M. ; Weill, G. ; Syfosse, G.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.435-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
5.

国際会議録

国際会議録
Paloura, E. C. ; Petkos, G. ; Goodhew, P. J. ; Theys, B. ; Chevallier, J.
出版情報: Defects in electronic materials II : symposium held December 2-6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.523-,  1997.  Pittsburgh, Penn.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 442