1.

国際会議録

国際会議録
Therrien, R. ; Rayner, B. ; Lucovsky, C.
出版情報: The physics and chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 interface-4, 2000 : proceedings of the fourth International Symposium on the Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface, Tronto, Canada, May 15-18, 2000.  pp.495-504,  2000.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-2
2.

国際会議録

国際会議録
Johnson, J. W. ; Gao, J. ; Lucht, K. ; Williamson, J. ; Strautin, C. ; Riddle, J. ; Therrien, R. ; Rajagopal, P. ; Roberts, J.C. ; Vescan, A. ; Brown, J.D. ; Hanson, A. ; Singhal, S. ; Borges, R. ; Finer, E.L. ; Linthicum, K.J.
出版情報: State-of-the-art program on compound semiconductors XLI and nitride and wide bandgap semiconductors for sensors, photonics, and electronics V : proceedings of the international symposia.  pp.405-419,  2004.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-06
3.

国際会議録

国際会議録
Wolfe, D. ; Flock, K. ; Therrien, R. ; Johnson, R. ; Rayner, B. ; Gunther, L. ; Brown, N. ; Claflin, B. ; Lucovsky, G.
出版情報: Ultrathin SiO[2] and high-K materials for USLI gate dielectrics : symposium held April 5-8, 1999, in San Francisco, California, U.S.A..  pp.343-,  1999.  Warrendale, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 567