1.

国際会議録

国際会議録
Godlewski,M. ; Ivanov,V.Yu. ; Kaminska,A. ; Zuo,H.Y. ; Goldys,E.M. ; Tansley,T.L. ; Barski,A. ; Rossner,U. ; Rouvicre,J.L. ; Arlery,M. ; Grzegory,I. ; Suski,T. ; Porowski,S. ; Bergman,J.P.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part2  pp.1149-1154,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
2.

国際会議録

国際会議録
Zhang,Z. ; Guy,I.L. ; Tansley,T.L.
出版情報: Smart materials, structures, and integrated systems : 11-13 December 1997, Adelaide, Australia.  pp.429-435,  1997.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3241
3.

国際会議録

国際会議録
Goldys,E.M. ; Paterson,M.J. ; Zuo,H.Y. ; Tansley,T.L.
出版情報: Silicon carbide, III-nitrides and related materials, ICSCIII-N'97 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide, III-Nitrides and Related Materials, Stockholm, Sweden, September 1997.  Part2  pp.1205-1208,  1998.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 264-268