1.

国際会議録
国際会議録
1. *MECHANISMS OF SELF-DIFFUSION AND OF DOPING-ENHANCEMENT OF SUPERLATTICE DISORDERING IN GaAs AND A1As COMPOUNDS
Tan, T. Y. ; Goselle, U.
出版情報: Advances in materials, processing, and devices in III-V compound semiconductors.  pp.221-232,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 144
2.

国際会議録
国際会議録
2. MECHANISM OF Cr DIFFUSION IN GaAs
Yu, S. ; Tan, T. Y. ; Gosele, U.
出版情報: Advanced III-V compound semiconductor growth, processing and devices : symposium held Decmber[i.e. December] 2-5, 1991, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.747-758,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 240
3.

国際会議録
国際会議録
3. DETERMINATION OF Ga SELF-DIFFUSION COEFFICIENT IN GaAs
Tan, T. Y. ; Yu, S. ; Gosele, U.
出版情報: Advanced III-V compound semiconductor growth, processing and devices : symposium held Decmber[i.e. December] 2-5, 1991, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.739-746,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 240
4.

国際会議録
国際会議録
4. THE INFLUENCE OF POINT DEFECTS ON DIFFUSION AND GETTERING IN SILICON
Goselle, U. ; Tan, T. Y.
出版情報: Impurity diffusion and gettering in silicon : symposium held November 27-30, 1984, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.105-116,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 36
5.

国際会議録
国際会議録
5. ON THE INTERACTION OF INTRINSIC AND EXTRINSIC GETTERING SCHEMES IN SILICON
Yang, K. H. ; Tan, T. Y.
出版情報: Impurity diffusion and gettering in silicon : symposium held November 27-30, 1984, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.223-230,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 36
6.

国際会議録
国際会議録
6. DISORDERING AND CHARACTERIZATION STUDIES OF 69 GaAs/71GaAs ISOTOPE SUPERLATTICES STRUCTURES: THE EFFECT OF OUTDIFFUSION OF THE SUBSTRATE DOPANT Si
Tan, T. Y. ; You, H. M. ; Yu, S. ; Goesele, U. M. ; Jager, W. ; Zypman, F. ; Tsu, R. ; Lee, S.-T
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.873-880,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
7.

国際会議録
国際会議録
7. Intrinsic Point Defects and Diffusion Processes in Silicon
Tan, T. Y.
出版情報: Electron microscopy of materials : symposium held November 1983 in Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.127-142,  1984.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 31
8.

国際会議録
国際会議録
8. MECHANISMS OF DOPING-ENHANCED SUPERLATTICE DISORDERING AND OF GALLIUM SELF-DIFFUSION IN GaAs
Tan, T. Y. ; Gosele, U. ; Marioton, B. P. R.
出版情報: Defects in electronic materials : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.605-612,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 104
9.

国際会議録
国際会議録
9. Simulation of Under- and Supersaturation of Gallium Vacancies in Gallium Arsenide During Silicon In- and Outdiffusion
Chen, C. -H. ; Gosele, U. ; Tan, T. Y.
出版情報: Semiconductor process and device performance modeling : symposium held December 2-3, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.99-,  1998.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 490
10.

国際会議録
国際会議録
10. Nucleation and Growth of Voids in Silicon
Plekhanov, P. S. ; Gosele, U. M. ; Tan, T. Y.
出版情報: Semiconductor process and device performance modeling : symposium held December 2-3, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.77-,  1998.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 490