1.

国際会議録
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1. DETERMINATION OF CRYSTAL SITE OCCUPANCY IN AN IMPROVED SYNROC-D CERAMIC USING ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPY
Tafto, J. ; Clarke, D. R. ; Spence., J. C. H
出版情報: Scientific basis for nuclear waste management VI : symposium held November 1982 in Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.9-14,  1983.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 15
2.

国際会議録
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2. GRAIN BOUNDARIES, PLANAR DEFECTS AND SUPERCONDUCTING PROPERTIES OF YBa2Cu3O7
Tafto, J. ; Suenaga, M. ; Wang, T. ; Sabatini, R. L. ; Moodenbaugh, A. R. ; Levine, S.
出版情報: High-temperature superconductors : symposium held November 30-December 4, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.511-514,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 99
3.

国際会議録
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3. STRUCTURE STUDIES OF THIN AMORPHOUS FILMS BY SYNCHROTRON X-RAY ABSORPTION AND ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPY
Heald, S.M. ; Tafto, J.
出版情報: Interfaces, superlattices, and thin films : symposium held December 1-6, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.163-168,  1987.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 77
4.

国際会議録
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4. Crystallinity, Morphology, and Conductivity of Boron-Doped Microcrystalline Silicon
Rajeswaran, G. ; Tafto, J. ; Sabatini, R. L. ; Vanier, P. E.
出版情報: Electron microscopy of materials : symposium held November 1983 in Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.159-164,  1984.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 31
5.

国際会議録
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5. From liquid to amorphous germanium by molecular dynamics
Bording, J.K. ; Tibballs, J.E. ; Tafto, J.
出版情報: New kinds of phase transitions : transformations in disordered substances.  pp.201-208,  2002.  Dordrecht.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO science series. Series 2, Mathematics, physics and chemistry
シリーズ巻号: 81
6.

国際会議録
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6. CHARACTERIZATION OF REACTIVELY SPUTTERED TITANIUM CARBIDE FILMS BY ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPY
Tafto, J. ; Rajeswaran, G. ; Saulys, T.
出版情報: Materials problem solving with the transmission electron microscope : symposium held December 2-4, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.421-426,  1986.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 62
7.

国際会議録
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7. THE LOCAL ATOMIC ARRANGMENT IN AMORPHOUS SixCl-x:H BY ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPY AND ELECTRON DIFFRACTION
Tafto, J. ; Kampas, F.J.
出版情報: Materials problem solving with the transmission electron microscope : symposium held December 2-4, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.415-420,  1986.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 62
8.

国際会議録
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8. Accurate Determination of Orientation Relationships between Ferroelastic Domains: The Tetragonal to Monoclinic Transition in LaNbO4 as an Example
Prytz, O. ; Tafto, J.
出版情報: Electron microscopy of molecular and atom-scale mechanical behavior, chemistry and structure : symposium held November 29-December 1, 2004, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.131-136,  2005.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 839
9.

国際会議録
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9. Reconciliation of the Microcrystalline and the Continuous Random Network Model for Amorphous Semiconductors
Bording, J. K. ; Tafto, J.
出版情報: Microcrystalline and nanocrystalline semiconductors-2000 : symposium held November 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A..  2001.  Warrendale, PA..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 638