1.

国際会議録
国際会議録
1. Analyses of High Leakage Currents in Al+ Implanted 4H SiC pn Diodes Caused by Threading Screw Dislocations
T. Tsuji ; T. Tawara ; R. Tanuma ; Y. Yonezawa ; N. Iwamuro
出版情報: Silicon carbide and related materials 2009 : selected peer reviewed papers from the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2009, Nurnberg, Germany, October 11-16, 2009.  pp.913-916,  2010.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 645-648
2.

国際会議録
国際会議録
2. Carrier Lifetime Control of 4H-SiC Epitaxial Layers by Boron Doping
T. Miyazawa ; T. Tawara ; H. Tsuchida
出版情報: Silicon Carbide and Related Materials 2016.  pp.51-54,  2017.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 897
3.

国際会議録
国際会議録
3. Suppression of the Forward Degradation in 4H-SiC PiN Diodes by Employing a Recombination-Enhanced Buffer Layer
T. Tawara ; T. Miyazawa ; M. Ryo ; M. Miyazato ; T. Fujimoto ; K. Takenaka ; S. Matsunaga ; M. Miyajima ; A. Otsuki ; Y. Yonezawa ; T. Kato ; H. Okumura ; T. Kimoto ; H. Tsuchida
出版情報: Silicon Carbide and Related Materials 2016.  pp.419-422,  2017.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 897
4.

国際会議録
国際会議録
4. V and Ti Doping in 4H-SiC Epitaxy for Reduction of Carrier Lifetimes
T. Miyazawa ; T. Tawara ; H. Tsuchida
出版情報: Silicon Carbide and Related Materials 2016.  pp.67-70,  2017.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 897