1.

国際会議録
国際会議録
1. An Electrochemical Sensor Array for In-situ Measurements of Oxide Film Electric Resistance in High Temperature Water
S. Uchida ; T. Satoh ; T. Miyazawa ; Y. Satoh ; N. Kakinuma
出版情報: Sensors, Actuators, and Microsystems (General).  pp.39-50,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 2(25)
2.

国際会議録
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2. Degradation of Charge Collection Efficiency Obtained for 6H-SiC n+p Diodes Irradiated with Gold Ions
T. Ohshima ; T. Satoh ; M. Oikawa ; S. Onoda ; S. Hishiki ; T. Hirao ; T. Kamiya ; T. Yokoyama ; A. Sakamoto ; R. Tanaka ; I. Nakano ; G. Wagner ; H. Itoh
出版情報: Silicon carbide and related materials 2006 : ECSCRM 2006, Proceedings of the 6th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, Newcastle upon Tyne, UK, September 2006.  pp.913-916,  2007.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 556-557
3.

国際会議録
国際会議録
3. Creation and Functionalization of Defects in SiC by Proton Beam Writing
T. Ohshima ; T. Honda ; S. Onoda ; T. Makino ; M. Haruyama ; T. Kamiya ; T. Satoh ; Y. Hijikata ; W. Kada ; O. Hanaizumi ; A. Lohrmann ; J.R. Klein ; B.C. Johnson ; J.C. McCallum ; S. Castelletto ; B.C. Gibson ; H. Kraus ; V. Dyakonov ; G.V. Astakhov
出版情報: Silicon Carbide and Related Materials 2016.  pp.233-237,  2017.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 897
4.

国際会議録
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4. Exposure characteristics of character projection-type low-energy electron-beam direct writing system
T. Satoh ; R. Inanami ; K. Kishimoto ; K. Hirose ; T. Nakasugi ; T. Koshiba ; T. Ota
出版情報: Emerging lithographic technologies XI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6517
5.

国際会議録
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5. Soft x-ray calibration for the NeXT x-ray telescope
Y. Maeda ; T. Hayashi ; H. Mori ; R. Nakamura ; T. Satoh
出版情報: Space telescopes and instrumentation 2008 : ultraviolet to gamma ray : 23-28 June 2008, Marseille, France.  2  pp.70112O-1-70112O-9,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7011