1.

国際会議録
国際会議録
1. Luminescence of Y2O3:Eu3+ Nanoparticles Synthesized from Urea Containing Nitrate Based Liquid Precursor by Flame Spray Pyrolysis
J. Lee ; T. Kim ; M. Oh ; M.B. Ranade ; R.K. Singh
出版情報: Phosphors for New-Generation Lighting.  pp.33-38,  2009.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 16(30)
2.

国際会議録
国際会議録
2. Solid Phase Crystallization (SPC) of a-Si Thin Film Induced by a Novel Approach for Photovoltaic Devices
T. Kim ; P. Kumar ; J.S. Lee ; K. Siebein ; R.K. Singh
出版情報: High Purity Silicon 10.  pp.79-85,  2008.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 16(6)
3.

国際会議録
国際会議録
3. Preparation of Pitch Based Mesoporous Carbon as Catalyst Supporting Material for DMFC
D. Jung ; K. Nam ; T. Kim ; S. Kim ; D. Peck
出版情報: Direct Methanol Fuel Cells.  pp.63-69,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 2(24)
4.

国際会議録
国際会議録
4. The Polarimetric Characteristics of Bottom Topography Related Features on SAR Images
T. Kim
出版情報: Proceedings of the 3rd International Workshop on Science and Applications of SAR Polarimetry and Polarimetric Interferometry, 22-26 January 2007, ESRIN, Frascati, Italy.  2007.  Noordwijk, The Netherlands.  ESA Publications
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 644
5.

国際会議録
国際会議録
5. Effect of Particle Deposition and Wet/Dry Cleaning Methods on Particle Removal Efficiency
T. Kim ; S. Hu ; A.A. Busnaina ; J. Park
出版情報: Cleaning and surface conditioning technology in semiconductor device manufacturing 10.  pp.361-367,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 11(2)
6.

国際会議録
国際会議録
6. Removal of Organic Wax and Particles on Silicon after Batch type Polishing by Ozonated DI Water
J. Yi ; S. Lee ; T. Kim ; J. Park ; G. Lee
出版情報: Cleaning and surface conditioning technology in semiconductor device manufacturing 10.  pp.79-84,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 11(2)
7.

国際会議録
国際会議録
7. Surface Preparation in CMP Process; Post CMP Cleaning and Defects
J. Park ; T. Kim
出版情報: Cleaning and surface conditioning technology in semiconductor device manufacturing 10.  pp.419-430,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 11(2)
8.

国際会議録
国際会議録
8. Quantitative Measurement of Pattern Collapse and Particle Removal Force
T. Kim ; K.L. Wostyn ; P. Mertens ; A.A. Busnaina ; J. Park
出版情報: Cleaning and surface conditioning technology in semiconductor device manufacturing 10.  pp.123-129,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 11(2)
9.

国際会議録
国際会議録
9. Characteristics of High Power Laser Shock Waves and Their Cleaning Performance
T. Kim ; Y. Yoo ; I. Son ; D. Jang ; D. Kim
出版情報: Cleaning and surface conditioning technology in semiconductor device manufacturing 10.  pp.41-46,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 11(2)
10.

国際会議録
国際会議録
10. Biogas Purifyung for Application of MCFC
J. Lee ; J. Jun ; T. Kim ; B. Ahn ; K. Park ; D. Choi ; J. Park
出版情報: 30th fuel cell seminar.  pp.733-738,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 5(1)