1.

国際会議録

国際会議録
Sato, D. L. ; Szalkowski, F. J. ; Lee, H. P.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.177-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
2.

国際会議録

国際会議録
Lee, H. P. ; Szalkowski, F. J. ; Zeng, X. ; Wolfenstine, J. ; Ager, J. W., III.
出版情報: Strained layer epitaxy - materials processing and device applications : symposium held April 17-19, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.53-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 379
3.

国際会議録

国際会議録
Lin, C. H. ; Hibbard, D. L. ; Au, A. ; Lee, H. P. ; Dong, Z.J. ; Szalkowski, F. J. ; Chen, J. ; Chen, C.
出版情報: GaN and related alloys - 2000 : symposium held November 27-December 1, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A..  2001.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 639
4.

国際会議録

国際会議録
Tong, H. Y. ; Szalkowski, F. J. ; Shi, F. G. ; Zhao, B. ; Brongo, M. ; Wang, S-Q. ; Vasudev, P. K.
出版情報: Low-dielectric constant materials III : symposium held April 1-4, 1997, San Francisco, California, U.S.A..  pp.75-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 476