1.

国際会議録
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1. Photoexcitation of Defects Related to B in GaAs
Suezawa,M. ; Sumino,K.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.2  pp.1281-1285,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
2.

国際会議録
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2. Oxygen Precipitation in CZ Silicon Crystals Contaminated with Iron
Jablonski,J. ; Shen,B. ; Mchedlidze,T.R. ; Imai,M. ; Sumino,K.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.1859-1864,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
3.

国際会議録
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3. < 100 >and< 111 >configurations of iron-acceptor pairs in silicon related to stable and metastable states
Takahashi,H. ; Suezawa,M. ; Sumino,K.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.1  pp.155-160,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87
4.

国際会議録
国際会議録
4. Annealing Processes of Vacancies in Silicon Induced by Electron Irradiation:Analysis Using Positron Lifetime Measurement
Kawasuso,A. ; Hasegawa,M. ; Suezawa,M. ; Yamaguchi,S. ; Sumino,K.
出版情報: Positron annihilation : ICPA-10 : Proceedings of the 10th International Conference on Positron Annihilation, May 23-29, 1994, Beijing, China.  Part1  pp.423-426,  1995.  Aederlmannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 175-178
5.

国際会議録
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5. Subsurface Damage in Single Diamond Tool Machined Si Wafers
Mchedlidze,T.R. ; Yonenaga,I. ; Sumino,K.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.1841-1846,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
6.

国際会議録
国際会議録
6. Optical Absorption Lines in Heat-Treated GaAs
Suezawa,M. ; Sumino,K.
出版情報: Shallow Impurities in Semiconductors : Proceedings of the Fifth International Conference on Shallow Impurities in Semiconductors "Physics and Control of Impurities", International Conference Center Kobe, Japan, 5 to 8 August, 1992.  pp.357-362,  1993.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 117-118
7.

国際会議録
国際会議録
7. Positron-Annihilation 2D-ACAR Study of Divacancy and Vacancy-Oxygen Pairs in Si
Hasegawa,M. ; Chiba,T. ; Kawasuso,A. ; Akahane,T. ; Suezawa,M. ; Yamaguchi,S. ; Sumino,K.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.1481-1490,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
8.

国際会議録
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8. Effect of Impurities on Dislocation Activity in GaAs
Yonenaga,I. ; Sumino,K.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part3  pp.1385-1390,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
9.

国際会議録
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9. Optical Absorption due to Vibration of Hydrogen-Oxygen Pairs in Silicon
Markevich,V.P. ; Suezawa,M. ; Sumino,K.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.915-920,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
10.

国際会議録
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10. Dislocation activities in bulk GeSi crystals
Yonenaga,I. ; Sumino,K.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.159-164,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263