1.

国際会議録

国際会議録
Storasta, L. ; Aleksiejunas, R. ; Sudzius, M. ; Kadys, A. ; Malinauskas, T. ; Jarasiunas, K. ; Magnusson, B. ; Janzen, E.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2004 : ECSCRM 2004 : proceedings of the 5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, August 31 - September 4 2004, Bologna, Italy.  pp.409-412,  2005.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 483-485
2.

国際会議録

国際会議録
Jarasiunas, K. ; Sudzius, M. ; Kaniava, A. ; Vaitkus, J.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.59-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
3.

国際会議録

国際会議録
Gehlhaar, R. ; Swoboda, M. ; Sudzius, M. ; Hoffmann, M. ; Frob, H. ; Lyssenko, V. G. ; Leo, K.
出版情報: Optoelectronic Devices: Physics, Fabrication, and Application III.  pp.63680P-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6368
4.

国際会議録

国際会議録
Sudzius, M. ; Gudelis, V. ; Aleksiejunas, R. ; Storasta, J. ; Jarasiunas, K. ; Cola, A.
出版情報: Selected Papers on Optics and Photonics: Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics.  pp.145-156,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5024