1.

国際会議録
国際会議録
1. Characterization of growth defects in ZnTe single Crystals
Zhou, W. ; Wu, J. ; Dudley, M. ; Su, C. H. ; Volz, M. P. ; Gillies, D. C. ; Szofran, F. R. ; Lehoczky, S. L.
出版情報: Semiconductors for room-temperature radiation detector applications : symposium held April 12-16, 1993, San Francisco, California, U.S.A..  pp.451-,  1993.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 302
2.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
2. Characterization of Electronic Materials Such as HgZnSe and HgZnTe Using Innovative and Conventional Techniques
Tanton, G. ; Kesmodel, R. ; Burden, J. ; Fiske, M. ; Su, C. H. ; Cobb, S. ; Lehoczky, S.
出版情報: AIAA paper.  pp.1-10,  2000.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2000