1.

国際会議録

国際会議録
Klaas, U. ; Abraham, P. ; Acosta-Pulido, J.A. ; Heraudeau, P. ; Kiss, C. ; Laureijs, R.J. ; Lemke, D. ; Richards, P.J. ; Schulz, B. ; Stickel, M.
出版情報: The Calibration legac of the ISO mission 5-9 February 2001, ISO Data Centre, Villafranca del Castillo, Madrid, Spain (VILSPA).  pp.19-30,  2003.  Noordwijk, The Netherlands.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 481
2.

国際会議録

国際会議録
Hippelein, H. ; Haas, M. ; Lemke, D. ; Stickel, M. ; Tuffs, R.J. ; Klaas, U. ; Voelk, H.
出版情報: ISOPHOT : proceedings of the Workshop on P32 oversampled mapping, 12-16 February 2001.  pp.79-82,  2002.  Noordwijk.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 482
3.

国際会議録

国際会議録
Stickel, M. ; Lcmkc, D. ; Kinas, U. ; Beichman, C.A. ; iowan-Robinson, M. ; Efstathiou, A. ; Bogun, S. ; Kessler, M.F. ; Richter, C.
出版情報: Proceedings of the symposium, the promise of the herschel space observatory, 12-15 December 2000, Toledo, Spain.  pp.109-112,  2001.  Noordwijk, the Netherlands.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 460
4.

国際会議録

国際会議録
Hotzel, S. ; Lemke, D. ; Krause, O. ; Stickel, M. ; Toth, L.V.
出版情報: The 33rd ESLAB Symposium on Star Formation from the Small to the Large Scale, 2-5 November 1999, ESTEC, Noordwijk, the Netherlands.  pp.403-406,  2000.  Noordwijk, The Netherlands.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 445
5.

国際会議録

国際会議録
Lemke, D. ; Kranz, Th. ; Klaas, U. ; Krause, O. ; Schubert, J. ; Stickel, M. ; Toth, L.V. ; Wolf, J.
出版情報: The Calibration legac of the ISO mission 5-9 February 2001, ISO Data Centre, Villafranca del Castillo, Madrid, Spain (VILSPA).  pp.219-224,  2003.  Noordwijk, The Netherlands.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 481
6.

国際会議録

国際会議録
Stickel, M.
出版情報: The universe as seen by ISO : UNESCO, Paris, France, 20-23 October 1998.  pp.839-844,  1999.  Noordwijk, Netherlands.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 427
7.

国際会議録

国際会議録
Stickel, M. ; Lemke, D. ; Klaas, U. ; Krause, O. ; Vavrek, R. ; Toth, L. V. ; Hotzel, S.
出版情報: Astronomical data analysis II : 27-28 August 2002, Waikoloa, Hawaii, USA.  pp.135-143,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4847