1.

国際会議録
国際会議録
1. Litmas Plasma Abatement Long-Term Reliability Test
Vartanian, V. ; Beu, L. ; Stephens, T. ; Rivers, J. ; Perez, B. ; Kiehlbauch, M. ; Tonnisand, E. ; Graves, D.
出版情報: Environmental issues in the electronics and semiconductor industries : proceedings of the third international symposium.  pp.9-20,  2000.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-7
2.

国際会議録
国際会議録
2. Long-Term Evaluation of a Litmas 'Blue' Inductively-Coupled Plasma Device for Point-of-Use PFC and HFC Abatement
Vartanian, V. ; Beu, L. ; Stephens, T. ; Jewett, R. ; Tonnis, E. ; Graves, D.
出版情報: Environmental issues in the electronics and semiconductor industries : proceedings of the second international symposium.  pp.103-115,  1999.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 99-8
3.

国際会議録
国際会議録
3. A compact 3D imaging laser radar system using Geiger-mode APD arrays: system and measurements
Marino, R.M. ; Stephens, T. ; Hatch, R.E. ; McLaughlin, J.L. ; Mooney, J.G. ; O'Brien, M.E. ; Rowe, G.S. ; Adams, J.S. ; Skelly, L. ; Knowlton, R.C. ; Forman, S.E. ; Davis, W.R.
出版情報: Laser radar technology and applications VIII : 22-25 April 2003, Oriando, Florida, USA.  pp.1-15,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5086
4.

国際会議録
国際会議録
4. Multiple Independent gate field effect transistors-device, process, applications Invited
Mathew, L. ; Sadd, M. ; Thean, A. ; Stephens, T. ; Mora, R. ; Zavala, M. ; Nguyen, B.Y. ; Rai, R. ; Backer, S. ; Shimer, R. ; Zang, W. ; Chowdhry, M.M. ; Fossum, J.G.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XII : proceedings of the international symposium.  pp.273-282,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-03
5.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
5. Cost Effective Annual Use and Charging Frequency for Four Different Plug-in Powertrains.
Santini, D. ; Zhou, Y. ; Stephens, T. ; Vyas, A. ; Kim, N.
出版情報: 2013 SAE world congress : technical paper.  2013.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2013
6.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
6. Fan and Heat Exchanger Flow Interactions.
Stephens, T. ; Cross, T.
出版情報: 2005 Vehicle Thermal Management Systems Conference and Exhibition : SAE technical paper.  2005.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2005
7.

国際会議録
国際会議録
7. Fabrication of integrated circuits with high yield using ultra-thin resist processes
Peters, R.D. ; Postnikov, S.V. ; Cobb, J.L. ; Dakshina-Murthy, S. ; Stephens, T. ; Parker, C. ; Luckowski, E. ; Martinez, A.M. Jr., ; Wu, W. ; Hector, S.D.
出版情報: Advances in Resist Technology and Processing XX.  2  pp.1390-1401,  2003.  Bellingham, CA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5039
8.

国際会議録
国際会議録
8. Controlling line-edge rougness to within reasonable limits
Cobb, J.L. ; Rauf, S. ; Thean, A. ; Dakshina-Murthy, S. ; Stephens, T. ; Parker, C. ; Peters, R.D. ; Rao, V.
出版情報: Advances in Resist Technology and Processing XX.  1  pp.376-383,  2003.  Bellingham, CA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5039