1.

国際会議録

国際会議録
Depas, M. ; Heyns, M.M. ; Nigam, T. ; Kenis, K. ; Sprey, H. ; Wilhelm, R. ; Crossley, A. ; Sofield, C.J. ; Graef, D.
出版情報: The physics and chemistry of SiO[2] and the Si-SiO[2] interface-3, 1996 : proceedings of the Third International Symposium on the Physics and Chemistry of SiO[2] and the Si-SiO[2] Interface.  pp.352-366,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-1
2.

国際会議録

国際会議録
Sofield, C.J. ; Murrell, M.P. ; Sugden, S. ; Heyns, M. ; Verhaverbecke, S. ; Welland, M.E. ; Golan, B. ; Barnes, J.
出版情報: Chemical surface preparation, passivation, and cleaning for semiconductor growth and processing : symposium held April 27-29, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.105-112,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 259