1.

国際会議録
国際会議録
1. Accurate CsM+ SIMS Aluminum Dopant Profiling in SiC
Smith, H.E. ; Tsao, B.H. ; Scofield, J.D.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 2005 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 2005 : Pittsburgh, Pennsylvania, USA : September 18-23 2005.  pp.629-632,  2006.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 527-529
2.

国際会議録
国際会議録
2. Evaluating and Improving SIMS Method for Measuring Nitrogen in SiC
Smith, H.E. ; Eyink, K.G. ; Mitchel, W.C. ; Wood, M.C. ; Fanton, M.A.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 2005 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 2005 : Pittsburgh, Pennsylvania, USA : September 18-23 2005.  pp.617-620,  2006.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 527-529