1.

国際会議録
国際会議録
1. Infuence of Hydrostatic Pressure on Deep Levels in Silicon Induced by Annealing
Smid,V. ; Zeman,J. ; Kristorik,J. ; Mares,J.J. ; Vyzhigin,Yu.V. ; Kostylev,V.A. ; Sobolev,N.A. ; Eliseev,V.V. ; Likunova,V.M.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.231-236,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
2.

国際会議録
国際会議録
2. Characterization of EL2 Level in As-Grown GaAs Prepared by MBE
Smid,V. ; Hubik,P. ; Bosacchi,A. ; Franchi,S. ; Gombia,E. ; Vanzetti,L.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.135-139,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41