1.

国際会議録
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1. Using high-speed camera to discriminate projective line with an adverse illumination
Sliwa, T. ; Voisin, Y. ; Diou, A.
出版情報: Machine vision applications in industrial inspection XI :proceedings of electronic imaging science and technology 2003 : 22-24 January 2003, Santa Clara, California, USA.  pp.140-148,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5011
2.

国際会議録
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2. Reaction-diffusion electrical network for image processing [5975-32]
Bilault, J.M. ; Binczak, S. ; Jacquir, S. ; Sliwa, T.
出版情報: Topical Problems of Nonlinear Wave Physics.  pp.59750W-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5975
3.

国際会議録
国際会議録
3. Three-dimensional level curves scanning based on intersection between laser lines
Sliwa, T. ; Tairi, H. ; Voisin, Y. ; Diou, A.
出版情報: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection III.  pp.315-322,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5144
4.

国際会議録
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4. Visual servo control using orthonormal polynomial
Tairi, H. ; Sliwa, T. ; Voisin, Y. ; Diou, A. ; Radouane, L.
出版情報: Sixth International Conference on Quality Control by Artificial Vision.  pp.314-322,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5132
5.

国際会議録
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5. Near-orthogonal and adaptive affine lifting scheme on vector-valued signals
Sliwa, T. ; Voisin, Y. ; Diou, A.
出版情報: Wavelet Applications in Industrial Processing.  pp.138-146,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5266
6.

国際会議録
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6. A comparative survey on invisible structured light
Fofi, D. ; Sliwa, T. ; Voisin, Y.
出版情報: Machine Vision Applications in Industrial Inspection XII.  pp.90-98,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5303
7.

国際会議録
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7. Adaptivity with near-orthogonality constraint for high compression rates in lifting scheme framework
Sliwa, T. ; Voisin, Y. ; Diou, A.
出版情報: Mathematics of Data/Image Coding, Compression, and Encryption VI, with Applications.  pp.107-116,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5208
8.

国際会議録
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8. Hardware implementation of geometric moment functions in a CMOS retina
Aubreton, O. ; Lew Yan Voon, L. F. C. ; Lamalle, B. ; Sliwa, T. ; Roy, M. ; Cathebras, G.
出版情報: Machine Vision and its Optomechatronic Applications.  pp.225-233,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5603