1.

国際会議録
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1. SUBSTRATE AND PARTICLE DEPENDENT DEEP LEVEL GENERATION IN SILICON BY MeV PARTICLE BEAMS
Trauwaert, M.-A. ; Vanhellemont, J. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Johlander, B. ; Harboe-Sorensen, R. ; Adams, L. ; Clauws, P.
出版情報: Beam-solid interactions : fundamentals and applications : symposium held November 30-December 4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.93-98,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 279
2.

国際会議録
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2. Noise as a Spectroscopic Tool for Semiconductor Characterization
Clacys, C. ; Simoen, E.
出版情報: Proceedings of the Electrochemical Society Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices.  pp.324-341,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-12
3.

国際会議録
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3. Impact of the back-gate bias on the low-frequency noise of partially depleted silicon-on-insulator MOSFETs
Lukyanchikova, N. R. ; Garbar, N. ; Smolanka, A. ; Simoen, E. ; Mercha, A. ; Claeys, C.
出版情報: Noise in devices and circuits II : 26-28 May 2004, Maspalomas, Gran Canaria, Spain.  pp.208-214,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5470
4.

国際会議録
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4. 1/f noise in deep-submicron CMOS technology for RF and analog applications (Invited Paper)
Mercha, A. ; Simoen, E. ; Decoutere, S. ; Claeys, C.
出版情報: Noise in devices and circuits II : 26-28 May 2004, Maspalomas, Gran Canaria, Spain.  pp.193-207,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5470
5.

国際会議録
国際会議録
5. THE BEHAVIOUR OF OXYGEN IN OXYGENATED N-TYPE HIGH-RESISTIVITY FLOAT-ZONE SILICON
Simoen, E. ; Claeys, C. ; Job, R. ; Ulyashin, A.G. ; Fahrner, W.R. ; Tonelli, G. ; Degryse, O. ; Clauws, P.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.912-924,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
6.

国際会議録
国際会議録
6. Degradation and recovery of alpha ray irradiated MOSFETs on SIMOX
Ohyama, H. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Takami, Y. ; Kawamura, K. ; Hakata, T. ; Sunaga, H. ; Ogita, Y.
出版情報: Proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.289-294,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-23
7.

国際会議録
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7. Analysis of HALO implant influence on the self-heating and self-heating enhanced impact ionization on 0.13 μm floating-body partially-depleted SOI MOSFET at low temperature
Pavanello, M.A. ; Martino, J.A. ; Simoen, E. ; Mercha, A. ; Clacys, C. ; van Meer, H. ; De Meyer, K.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XI : proceedings of the international symposium.  pp.389-394,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-5
8.

国際会議録
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8. THE BEHAVIOUR OF OXYGEN IN OXYGENATED N-TYPE HIGH-RESISTIVITY FLOAT-ZONE SILICON
Simoen, E. ; Claeys, C. ; Job, R. ; Ulyashin, A.G. ; Fahrner, W.R. ; Tonelli, G. ; Degryse, O. ; Clauws, P.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.912-926,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
9.

国際会議録
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9. Evidence for a 'linear kink effect' in ultra-thin gate oxide SOI MOSFETs
Mercha, A. ; Simoen, E. ; Rafi, J.-M. ; Clacys, C. ; Lukyanchikova, N. ; Petrichuk, M. ; Garbar, N.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XI : proceedings of the international symposium.  pp.319-324,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-5
10.

国際会議録
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10. ON THE ELECTRICAL ACTIVITY OF OXYGEN-RELATED EXTENDED DEFECTS IN SILICON
Vanhellemont, J. ; Simoen, E. ; Bosman, G. ; Claeys, C. ; Kaniava, A. ; Gaubas, E. ; Blondeel, A. ; Clauws, P.
出版情報: Proceedings of the Seventh International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.670-683,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-10