1.

国際会議録

国際会議録
Hovijitra, N. ; Lee, S.W. ; Shang, H. ; Wallis, E. ; Lee, G.U.
出版情報: Chemical and biological sensing V : 12-13 April, 2004, Orlando, Florida, USA.  pp.84-93,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5416
2.

国際会議録

国際会議録
Ieong, M. ; Doris, B. ; Kedzierski, I. ; Ren, Z. ; Rim, K. ; Yang, M. ; Shang, H. ; Chang, L.
出版情報: Advanced short-time thermal processing for Si-based CMOS devices : proceedings of the international symposium.  pp.371-392,  2004.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-01
3.

国際会議録

国際会議録
Shang, H. ; Wang, Y.
出版情報: Sixth International Symposium on Instrumentation and Control Technology: Sensors, Automatic Measurement, Control, and Computer Simulation.  pp.635801-635801,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6358
4.

国際会議録

国際会議録
Asundi, A.K. ; Shang, H. ; Xie, H. ; Li, B.
出版情報: Microsystems Engineering: Metrology and Inspection III.  pp.155-160,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5145
5.

国際会議録

国際会議録
Shang, H. ; Wang, Y. ; Milbrath, B. ; Bliss, M. ; Cao, G.
出版情報: Nanophotonic Materials.  pp.88-96,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5510
6.

国際会議録

国際会議録
Xie, H. ; Liu, Z. ; Shang, H. ; Xue, Q. ; Jia, J. ; Fang, D.
出版情報: Third International Conference on Experimental Mechanics and Third Conference of the Asian Committee on Experimental Mechanics.  pp.740-744,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5852