1.

国際会議録

国際会議録
Shan,W. ; Walukiewicz,W. ; Yu,K.M. ; III,J.W.Ager ; Haller,E.E. ; Geisz,J.F. ; Friedman,D.J. ; Olson,J.M. ; Kurtz,S.R. ; Xin,H.P. ; Tu,C.W.
出版情報: Physics and simulation of optoelectronic devices VIII : 24-28 January 2000, San Jose, USA.  Part1  pp.69-79,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3944
2.

国際会議録

国際会議録
Shan,W. ; Li,M.F. ; Yu,P.Y. ; Walukiewicz,W. ; Hansen,W.L.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part3  pp.1427-1432,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
3.

国際会議録

国際会議録
Li,M.F. ; Yu,P.Y. ; Shan,W. ; Hansen,W.L. ; Weber,E.R.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part2  pp.851-856,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
4.

国際会議録

国際会議録
Li,M.F. ; Shan,W. ; Yu,P.Y. ; Hansen,W.L. ; Weber,E.R. ; Bauser,E.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part3  pp.1103-1108,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
5.

国際会議録

国際会議録
Song,J.J. ; Shan,W. ; Schmidt,T. ; Yang,X.H. ; Fischer,A. ; Hwang,S.J. ; Taheri,B. ; Goldenberg,B.L. ; Horning,R. ; Salvador,A. ; Kim,W. ; Aktas,O. ; Botchkarev,A. ; Morkoc,H.
出版情報: Physics and Simulation of Optoelectronic Devices IV.  pp.86-96,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2693
6.

国際会議録

国際会議録
Fischer,A.J. ; Shan,W. ; Song,J.J. ; Kim,D.S. ; Yee,D.S. ; Chang,Y.C. ; Horning,R. ; Goldenberg,B.L.
出版情報: Ultrafast Phenomena in Semiconductors II.  pp.78-85,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3277