1.

国際会議録

国際会議録
Mann, G. ; Seidel, S. ; Weber, H.
出版情報: Laser metrology and inspection : 14-15 June 1999, Munich, Germany.  pp.289-297,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3823
2.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
LoSecco, J. M. ; Bionta, R, M. ; Blewitt, G. ; Bratton, C. B. ; Casper, D. ; Chrysicopoulou, P. ; Claus, R. ; Cortez, G. ; Errede, S. ; Foster, G. W. ; Gajewski, W. ; Ganezer, K. S. ; Goldhaber, M. ; Haines, T. J. ; Jones, T. W. ; Kielczewska, D. ; Kropp, W. R. ; Learned, J. G. ; Lehmann, E. ; Park, H. S. ; Reines, F. ; Schultz, J. ; Seidel, S. ; Shumard, E. ; Sinclair, D. ; Sobel, H. W. ; Stone, J. L. ; Sulak, L. ; Syoboda, R. ; van der Velde, J. C. ; Wuest, C.
出版情報: NASA Technical Reports.  (NASA-CP-2376-Vol-8),  pp.1-4,  1985.  National Aeronautics and Space Administration