1.

国際会議録
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1. Characterization of 1/f noise in GaN-based HEMTs under high dc voltage stress (Invited Paper)
Jha, S. K. ; Zhu, C. F. ; Jelenkovic, E. ; Tong, K. Y. ; Surya, C. ; Schweizer, H. ; Pilkuhn, M.
出版情報: Noise in devices and circuits III : 24-26 May, 2005, Austin, Texas, USA.  pp.256-267,  2005.  Bellingham, Washington.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5844
2.

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2. Red surface emitters: powerful and fast
Schweizer, H. ; Ballmann, T. ; Butendeich, R. ; Rossbach, R. ; Raabe, B. ; Jetter, M. ; Scholz, F.
出版情報: Semiconductor optoelectronic devices for lightwave communication :8-10 September 2003, Orlando, Florida, USA.  pp.103-116,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5248
3.

国際会議録
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3. Nanometer Structures for Optics
Schweizer, H. ; Griesinger, U. ; Gauggel, H.P. ; Hofmann, R. ; Wang, J. ; Lichtenstein, N. ; Burkard, M. ; Kuhn, J. ; Geng, C. ; Geiger, M. ; Off, J. ; Scholz, F.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Light Emitting Devices for Optoelectronic Applications and the Twenty-Eighth State-of-the-Art Program on Compound Semiconductors.  pp.210-239,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-2
4.

国際会議録
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4. OPTICAL RESPONSE OF ELECTRON-HOLE PLASMA IN SURFACE EXCITED SEMICONDUCTORS
Forchel, A. ; Schweizer, H. ; Laurich, B. ; Trankle, G. ; Mahler, G.
出版情報: Energy beam-solid interactions and transient thermal processing : symposium held November 1983 in Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.209-216,  1984.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 23
5.

国際会議録
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5. DLTS and CV Analysis of Doped and N-Implanted GaN
Haase, D. ; Schmid, M. ; Dornen, A. ; Harle, V. ; Bolay, H. ; Scholz, F. ; Burkard, M. ; Schweizer, H.
出版情報: III-Nitride, SiC, and Diamond Materials for Electronic Devices : symposium held April, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.531-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 423
6.

国際会議録
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6. Quantum dot lasers
Schweizer, H. ; Wang, J. ; Griesinger, U. ; Burkard, M. ; Porsche, J. ; Geiger, M. ; Scholz, F. ; Riedl, T. ; Hangleiter, A.
出版情報: Frontiers of Nano-Optoelectronic Systems.  pp.65-84,  2000.  Dordrecht, MA.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO science series. Series 2, Mathematics, physics and chemistry
シリーズ巻号: 6
7.

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7. Channeling Defects In Group-III Nitrides During Dry Etching Processes
Breitschadel, Oliver ; Hsieh, J.T. ; Kuhn, B. ; Scholz, F. ; Schweizer, H.
出版情報: Wide-bandgap electronic devices.  pp.T6.33-,  2001.  Warrendale, PA..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 622
8.

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8. Short Gate Length AlGaN/GaN HEMTs
Breitschadel, Oliver ; Kley, L. ; Grabeldinger, H. ; Kuhn, B. ; Scholz, F. ; Schweizer, H.
出版情報: Wide-bandgap electronic devices.  pp.T6.29-,  2001.  Warrendale, PA..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 622
9.

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9. Ordering and Strain in GaxIn1-xP Quantum Wells
Geng, C. ; Moser, M. ; Winterhoff, R. ; Lux, E. ; Hommel, J. ; Hohing, B. ; Schweizer, H. ; Scholz, F.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Large Area Wafer Growth and Processing for Electronic and Photonic Devices and the twentieth State-of-the-Art Program on Compound Semiconductors (SOTAPOCS XX).  pp.268-274,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-18
10.

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10. Enhancement of detection accuracy of fiber Bragg grating sensors
Zeh, T. ; Schweizer, H. ; Meixner, A. ; Purde, A. ; Koch, A. W.
出版情報: Second European Workshop on Optical Fibre Sensors : EWOFS '04 : 9-11 June 2004, Santander, Spain.  pp.540-543,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5502