1.

国際会議録

国際会議録
Maycock,N. ; Schutte,A. ; Blatt,J.H.
出版情報: Three-dimensional imaging, optical metrology, and inspection V : 19-20 September 1999, Boston, Massachusetts.  pp.177-183,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3835
2.

国際会議録

国際会議録
Kalmanson,P.C. ; Schutte,A. ; Hart,C.L. ; Blatt,J.H.
出版情報: Three-Dimensional Imaging, Optical Metrology, and Inspection IV.  pp.21-26,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3520