1.

国際会議録
国際会議録
1. Epitaxial Layer Lifetime Characterization in the Frequency Domain
Park,J.E. ; Schroder,D.K. ; Tan,S.E. ; Choi,B.D. ; Fletcher,M. ; Buczkowski,A. ; Kirscht,F.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.383-395,  2000.  Pennington, N.J., Bellingham, Wash..  Electrochemical Society — SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4218
2.

国際会議録
国際会議録
2. Trends in Lifetime Measurements
Schroder,D.K.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.365-382,  2000.  Pennington, N.J., Bellingham, Wash..  Electrochemical Society — SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4218