1.

国際会議録
国際会議録
1. Trends in Lifetime Measurements*
Schroder, D.K.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.365-382,  2000.  Bellingham, Wash..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-17
2.

国際会議録
国際会議録
2. Epitaxial Layer Lifetime Characterization in the Frequency Domain
Park, J.E. ; Schroder, D.K. ; Tan, SE. ; Choi, B.D. ; Fletcher, M. ; Buczkowski, A. ; Kirscht, F.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.383-395,  2000.  Bellingham, Wash..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-17
3.

国際会議録
国際会議録
3. Characterization of SiO2 Inclusions in GaAs Grown by the LEC Method
Lai, L.P. ; Schroder, D.K.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Wide Bandgap Semiconductors and Devices and the Twenty-Third State-of-the-Art Program on Compound Semiconductors (SOTAPOCS XXIII).  pp.262-273,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-21
4.

国際会議録
国際会議録
4. Mercury Pseudo-MOSFET (HgFET) drain current dependence on surface treatment
Choi, J.Y. ; Schroder, D.K.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XII : proceedings of the international symposium.  pp.301-308,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-03
5.

国際会議録
国際会議録
5. CONTACTLESS SEMICONDUCTOR MEASUREMENTS
Schroder, D.K.
出版情報: Proceedings of the Seventh International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.1071-1082,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-10