1.

国際会議録
国際会議録
1. Characterization and Modeling of Wafer and Die Level Uniformity in Deep Reactive Ion Etching (DRIE)
Sun, Hongwei ; Hill, Tyrone ; Schmidt, Martin ; Boning, Duane
出版情報: Micro- and nanosystems : symposium held December 1-3, 2003, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.435-440,  2004.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 782
2.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
2. Combustion Supervision by Evaluating the Crankshaft Speed and Acceleration
Schmidt, Martin ; Kimmich, Frank ; Straky, Harald ; Isermann, Rolf
出版情報: 2000 SAE world congress : technical paper.  pp.1-8,  2000.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2000
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. Potential of Regenerative Braking Using an Integrated Starter Alternator
Schmidt, Martin ; Isermann, Rolf ; Lenzen, Bernd ; Hohenberg, Gunter
出版情報: 2000 SAE world congress : technical paper.  pp.1-6,  2000.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2000