1.

国際会議録
国際会議録
1. Novel far-infrared detectors for space applications
Perera,A.G.Unil ; Shen,W.Z. ; Liu,H.C. ; Buchanan,M. ; Schaff,W.J.
出版情報: Epilayers and heterostructures in optoelectronics and semiconductor technology : International Conference on Solid State Crystals '98 : 12-16 October 1998, Zakopane, Poland.  pp.254-259,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3725
2.

国際会議録
国際会議録
2. GaAs homojunction interfacial workfunction internal photoemission far-infrared detectors
Yuan,H.X. ; Perera,A.G.U. ; Francombe,M.H. ; Gamage,S.K. ; Liu,H. ; Buchanan,M. ; Schaff,W.J.
出版情報: Infrared detectors for remote sensing : physics, materials, and devices : 8-9 August 1996, Denver, Colorado.  pp.90-97,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2816
3.

国際会議録
国際会議録
3. GaAs homojunction far-infrared detectors for astronomy applications
Perera,A.G.U. ; Shen,W.Z. ; Francombe,M.H. ; Shure,M.A. ; Liu,H.C. ; Buchanan,M. ; Schaff,W.J.
出版情報: Infrared astronomical instrumentation : 23-25 March 1998, Kona, Hawaii.  Part 1  pp.39-47,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3354
4.

国際会議録
国際会議録
4. High-performance GaAs homojunction far-infrared detectors
Perea,A.G.U. ; Shen,W.Z. ; Liu,H.C. ; Buchanan,M. ; Schaff,W.J.
出版情報: Photodetectors : materials and devices III : 28-30 January 1998, San Jose, California.  pp.280-286,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3287
5.

国際会議録
国際会議録
5. Microstructure and composition of mixed GaAsN/GaN films
Michalak,R.J. ; Lee,J. ; Schaff,W.J. ; Ballantyne,J.M. ; Johnson,K.N.
出版情報: Photonic Processing Technology and Applications II.  pp.198-208,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3384