1.

国際会議録
国際会議録
1. Knowledge-based process control for fault detection and classification
Scanlan, J. ; O'Leary, K.
出版情報: Advanced process control and automation : 27 February, 2003, Santa Clara, California, USA.  pp.139-149,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5044
2.

国際会議録
国際会議録
2. Broadband RF process-state sensor for fault detection and classification
Martinez, F. ; Scullin, P. ; Scanlan, J.
出版情報: Data analysis and modeling for process control II : 3-4 March, 2005, San Jose, California, USA.  pp.178-186,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5755
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. Conceptual Design of UAV Airframes Using a Generic Geometry Service
Sobester, A. ; Keane, A. ; Scanlan, J. ; Bressloff, N.
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2005.  [Reston, Va.].  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA Infotech@Aerospace Conference and Exhibit
シリーズ巻号: 2005