1.

国際会議録
国際会議録
1. Growth and characterization of very long wavelength type-? infrared detectors
Mohseni,H. ; Tahraoui,A. ; Wojkowski,J.S. ; Razeghi,M. ; Mitchel,W.C. ; Saxler,A.W.
出版情報: Photodetectors : materials and devices V : 26-28 January 2000, San Jose, California.  pp.145-152,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3948
2.

国際会議録
国際会議録
2. Type-? InAs/InGaSb SL photodetectors
Lin,C.-H. ; Anselm,A. ; Kuo,C.-H. ; Delaney,A.M. ; Brown,G.J. ; Mahalingam,K. ; Saxler,A.W. ; Linville,R.J. ; Szmulowicz,F. ; Nathan,V.
出版情報: Photodetectors : materials and devices V : 26-28 January 2000, San Jose, California.  pp.133-144,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3948
3.

国際会議録
国際会議録
3. Electrical properties of Alx Ga1-x N materials for UV photodetector applications
Saxler,A.W.
出版情報: Photodetectors : materials and devices V : 26-28 January 2000, San Jose, California.  pp.330-341,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3948
4.

国際会議録
国際会議録
4. LEO of ?-nitride on Al2O3 and Si substrates
Razeghi,M. ; Kung,P. ; Sandvik,P.M. ; Mi,K. ; Zhang,X. ; Dravid,V.P. ; Freitas,J.A.,Jr. ; Saxler,A.W.
出版情報: Photodetectors : materials and devices V : 26-28 January 2000, San Jose, California.  pp.320-329,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3948
5.

国際会議録
国際会議録
5. Electrical characterization of AlxGa1-xN for UV photodetector applications
Saxler,A.W. ; Ahoujja,M. ; Mitchel,W.C. ; Kung,P. ; Walker,D. ; Razeghi,M.
出版情報: Photodetectors : materials and devices IV : 27-29 January 1999, San Jose, California.  pp.211-222,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3629