1.

国際会議録

国際会議録
Pawlowski, M. E. ; Sakano, Y. ; Miyamoto, Y. ; Takeda, M.
出版情報: Eighth International Symposium on Laser Metrology : macro-, micro-, and nano-technologies applied in science, engineering, and industry : 14-18 February, 2005, Merida, Yucatan, Mexico.  pp.88-93,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5776
2.

国際会議録

国際会議録
Pawlowski, M. ; Sakano, Y. ; Miyamoto, Y. ; Takeda, M. ; Obayashi, K.
出版情報: Interferometry XII: Techniques and Analysis.  pp.121-126,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5531