1.

国際会議録
国際会議録
1. Simultaneous Determination of the Carrier Concentration, Mobility and Thickness of SiC Homo-Epilayers Using Terahertz Reflectance Spectroscopy
S. Oishi ; Y. Hijikata ; H. Yaguchi ; S. Yoshida
出版情報: Silicon carbide and related materials 2006 : ECSCRM 2006, Proceedings of the 6th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, Newcastle upon Tyne, UK, September 2006.  pp.423-426,  2007.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 556-557
2.

国際会議録
国際会議録
2. Surface Study of Vitreous Carbon Obtained from Glassy Carbon Powder
F. Dondeo ; A.J. Damiao ; W. Miyakawa ; F. Nascimento ; L. Fernandes ; S. Oishi ; E. Botelho
出版情報: Advanced structural materials 2011.  pp.25-30,  2012.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 1373
3.

国際会議録
国際会議録
3. Focus and dose controls, and their application in lithography
H. Ina ; K. Sentoku ; S. Oishi ; T. Miyashita ; T. Matsumoto
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518
4.

国際会議録
国際会議録
4. Scatterometry based overlay metrology
T. Matsumoto ; H. Ina ; K. Sentoku ; S. Oishi
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXII.  2  pp.69223L-1-69223L-8,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6922