1.

国際会議録

国際会議録
M. Niwa ; R. Mitsuhashi ; S. Hayashi ; K. Yamamoto ; Y. Harada ; M. Kubota ; A. Rothchild ; T. Hoffmann ; S. Kubicek ; S. DeGendt ; M. Heyns ; A. Lauwers ; S. Biesemans ; J. Kittle
出版情報: Physics and technology of high-k gate dielectrics III.  pp.269-286,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 1(5)
2.

国際会議録

国際会議録
A. Nackaerts ; S. Verhaegen ; M. Dusa ; H. Kattouw ; F. van Bilsen ; S. Biesemans ; G. Vandenberghe
出版情報: Design for manufacturability through design-process integration : 28 February-2 March 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6521