1.

国際会議録
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1. Dose Rate Effects During Damage Accumulation in Silicon
Caturla, M-J. ; Rubia, T. Diaz de la
出版情報: Microstructure evolution during irradiation : symposium held December 2-5, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.125-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 439
2.

国際会議録
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2. Defect Diffusion During Annealing of Low-Energy Ion-Implanted Silicon
Bedrossian, P. J. ; Caturla, M-J. ; Rubia, T. Diaz de la
出版情報: Materials modification and synthesis by ion beam processing : symposium held December 2-5, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.715-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 438
3.

国際会議録
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3. Diffuse X-ray Scattering Study of Defects Created by keV Ion Implants in Si
Partyka, P. J. ; Averback, R. S. ; Nordlund, K. ; Robinson, I. K. ; Walko, D. ; Ehrhart, P. ; Rubia, T. Diaz de la ; Tang, M.
出版情報: Microstructure evolution during irradiation : symposium held December 2-5, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.89-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 439
4.

国際会議録
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4. Defect Diffusion During Annealing of Low-Energy Ion-Implanted Silicon
Bedrossian, P. J. ; Caturla, M-J. ; Rubia, T. Diaz de la
出版情報: Microstructure evolution during irradiation : symposium held December 2-5, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.53-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 439
5.

国際会議録
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5. MOLECULAR DYNAMICS STUDIES OF RADIATION EFFECTS IN SILICON CARBIDE
Rubia, T. Diaz de la ; Caturla, M.-J. ; Tobin, M.
出版情報: Microstructure of irradiated materials : Symposium held November 29-1 December, 1994, Boston, Massachusetts USA.  pp.555-,  1995.  Pittsburgh, Pa.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 373
6.

国際会議録
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6. Monte Carlo Simulation of Boron Diffusion During Low Energy Implantation and High-Temperature Annealing
Caturla, M-J. ; Rubia, T. Diaz de la ; Zhu, J. ; Johnson, M.
出版情報: Defects and diffusion in silicon processing : symposium held April 1-4, 1997, San Francisco, California, U.S.A..  pp.335-,  1997.  Pittsburg, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 469
7.

国際会議録
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7. Formation and Binding Energies of Vacancy Clusters in Silicon
Colombo, L. ; Bongiorno, A. ; Rubia, T. Diaz de la
出版情報: Defects and diffusion in silicon processing : symposium held April 1-4, 1997, San Francisco, California, U.S.A..  pp.205-,  1997.  Pittsburg, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 469
8.

国際会議録
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8. Effect of Atomic Bonding on Defect Production in Collision Cascades
Nordlund, K. ; Averback, R. S. ; Rubia, T. Diaz de la
出版情報: Defects and diffusion in silicon processing : symposium held April 1-4, 1997, San Francisco, California, U.S.A..  pp.113-,  1997.  Pittsburg, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 469
9.

国際会議録
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9. A Molecular Dynamics Study of Cu Segregation to the ｦｲ11<110>/(113)(113) Grain Boundary in Al
Huang, Hanchen ; Rubia, T. Diaz de la ; Fluss, M. J.
出版情報: Materials reliability in microelectronics VI : symposium held April 8-12, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.177-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 428
10.

国際会議録
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10. Simulators of Thin Film Deposition for Silicon Device Processing
Gilmer, G. H. ; Baumann, F. H. ; Rubia, T. Diaz de la
出版情報: Advanced interconnects and contact materials and processes for future integrated circuits : symposium held April 13-16, 1998, San Francisco, California, U.S.A..  pp.119-,  1998.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 514