1.

国際会議録
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1. INVITED: ELECTRIC STRESS-INDUCED DEGRADATION OF THIN OXIDE LAYERS AND ITS IMPACT ON DEVICE RELIABILITY
Degraeve, R. ; Kaczer, B. ; Roussel, Ph. ; Groeseneken, G.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.475-488,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
2.

国際会議録
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2. INVITED: ELECTRIC STRESS-INDUCED DEGRADATION OF THIN OXIDE LAYERS AND ITS IMPACT ON DEVICE RELIABILITY
Degraeve, R. ; Kaczer, B. ; Roussel, Ph. ; Groeseneken, G.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.475-488,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
3.

国際会議録
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3. Ti-W-N DEPOSITION STRESS AS A FUNCTION OF MICROSTRUCTURE
Witvrouw, A. ; Bosscher, W. De ; Deweerdt, B. ; Verbeeck, R. ; Loosen, F. ; Roussel, Ph. ; Maex, K.
出版情報: Thin films : stresses and mechanical properties IV : symposium held April 12-16, 1993, San Francisco, California, U.S.A..  pp.51-,  1993.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 308
4.

国際会議録
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4. The Detrimental Effect of a Passivation on the Electromigration Lifetime of Narrow Al-Si-Cu Lines
Witvrouw, A. ; Roussel, Ph. ; Deweerdt, B. ; Maex, K.
出版情報: Materials reliability in microelectronics V : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.447-,  1995.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 391
5.

国際会議録
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5. STRESS RELAXATION IN Al-Si-Cu THIN FILMS AND LINES
Witvrouw, A. ; Proost, J. ; Deweerdt, B. ; Roussel, Ph. ; Maex, K.
出版情報: Thin films, stresses and mechanical properties V : symposium held November 28-December 2, 1994, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.441-,  1995.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 356