1.

国際会議録

国際会議録
Roos, G. ; Johnson, N. M. ; Pao, Y. C. ; Harris Jr., J. S.
出版情報: Advanced III-V compound semiconductor growth, processing and devices : symposium held Decmber[i.e. December] 2-5, 1991, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.667-672,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 240
2.

国際会議録

国際会議録
Lord, S. M. ; Roos, G. ; Pezeshki, B. ; Harri Jr., J., S,. ; Johnson, N. M.
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.881-886,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
3.

国際会議録

国際会議録
Wu, Y.-A. ; Roos, G. ; Johnson, N. M. ; Herring C.
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.449-454,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
4.

国際会議録

国際会議録
Roos, G. ; Johnson, N. M. ; Herring C. ; Harris Jr., J. S.
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.419-424,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262
5.

国際会議録

国際会議録
Pensl, G. ; Roos, G. ; Stolz, P. ; Johnson, N. M. ; Holm, C.
出版情報: Defects in electronic materials : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.241-246,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 104
6.

国際会議録

国際会議録
Boone, J. M. ; Kwan, A. L. C. ; Nelson, T. R. ; Shah, N. ; Burkett, G. ; Seibert, J. A. ; Lindfors, K. K. ; Roos, G.
出版情報: Medical Imaging 2005: Physics of Medical Imaging.  pp.319-323,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5745