1.

国際会議録

国際会議録
Goethals,A.-M. ; Pollers,I. ; Jaenen,P. ; Roey,F.Van ; Ronse,K. ; Heskamp,B. ; Davies,G.
出版情報: Optical microlithography XII : 17-19 March 1999, Santa Clara, California.  Part1  pp.278-289,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3679
2.

国際会議録

国際会議録
Maenhoudt,M. ; Verhaegen,S. ; Ronse,K. ; Flagello,D.G. ; Geh,B. ; Kaiser,W.M.
出版情報: Optical microlithography XII : 17-19 March 1999, Santa Clara, California.  Part1  pp.347-357,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3679
3.

国際会議録

国際会議録
Vandenberghe,G. ; Marschner,T. ; Ronse,K. ; Socha,R.J. ; Dusa,M.V.
出版情報: Optical microlithography XII : 17-19 March 1999, Santa Clara, California.  Part1  pp.228-238,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3679
4.

国際会議録

国際会議録
Pollentier,I.K. ; Baerts,C. ; Marschner,T. ; Ronse,K. ; Grozev,G. ; Reybrouck,M.
出版情報: Optical microlithography XII : 17-19 March 1999, Santa Clara, California.  Part2  pp.882-892,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3679
5.

国際会議録

国際会議録
Finders,J. ; Schoot,J.B.van ; Vanoppen,P. ; Dusa,M.V. ; Socha,R.J. ; Vandenberghe,G. ; Ronse,K.
出版情報: Optical microlithography XIII : 1-3 March 2000, Santa Clara, USA.  Part1  pp.192-205,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4000
6.

国際会議録

国際会議録
Randall,J. ; Tritchkov,A. ; Jonckheere,R. ; Jaenen,P. ; Ronse,K.
出版情報: Optical microlithography XI : 25-27 February 1998, Santa Clara, California.  pp.124-130,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3334
7.

国際会議録

国際会議録
Ronse,K. ; Maenhoudt,M. ; Marschner,T. ; Van,den,hove,L. ; Streefkerk,B. ; Finders,J. ; van,Schoot,J. ; Luehrmann,P.F. ; Minvielle,A.M.
出版情報: Optical microlithography XI : 25-27 February 1998, Santa Clara, California.  pp.56-66,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3334
8.

国際会議録

国際会議録
Ronse,K. ; Goethals,A.M. ; Vandenberghe,G. ; Maenhoudt,M.
出版情報: Lithography for semiconductor manufacturing : 19-21 May 1999, Edinburgh, Scotland.  pp.34-39,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3741
9.

国際会議録

国際会議録
Ronse,K. ; Vandenberghe,G. ; Jaenen,P. ; Delvaux,C. ; Vangoidsenhoven,D. ; Roey,F.Van ; Pollers,I. ; Maenhoudt,M. ; Goethals,A.M. ; Pollentier,I.K. ; Vleeming,B. ; Schenau,K.van lngen ; Heskamp,B. ; Davies,G. ; Niroomand,A.
出版情報: Optical microlithography XIII : 1-3 March 2000, Santa Clara, USA.  Part1  pp.410-422,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4000
10.

国際会議録

国際会議録
Maenhoudt,M. ; Verhaegen,S. ; Ronse,K. ; Zandbergen,P. ; Muzio,E.G.
出版情報: Optical microlithography XIII : 1-3 March 2000, Santa Clara, USA.  Part1  pp.373-387,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4000