1.

国際会議録

国際会議録
Dion,M.M. ; Levesque,P. ; Wasilewski,Z.R. ; Fallahi,M. ; Chatenoud,F. ; Williams,R.L. ; Rolfe,S.J.
出版情報: Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers : 31 January-1 February, 1996, San Jose, California.  pp.8-17,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2683
2.

国際会議録

国際会議録
Perera,A.G.U. ; Matsik,S.G. ; Letov,V.Y. ; Liu,H.C. ; Shen,A. ; Gao,M. ; Wasilewski,Z.R. ; Buchanan,M. ; Rolfe,S.J.
出版情報: Photodetectors : materials and devices VI : 22-24 January 2001, San Jose, USA.  pp.371-378,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4288