1.

国際会議録

国際会議録
Kelemen, M.T. ; Rinner, F. ; Rogg, J. ; Wiedmann, N. ; Kiefer, R. ; Walther, M. ; Mikulla, M. ; Weimann, G.
出版情報: Test and measurement applications of optoelectronic devices : 21-22 January 2002, San Jose, USA.  pp.75-81,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4648
2.

国際会議録

国際会議録
Rinner, F. ; Rogg, J. ; Wiedmann, N. ; Konstanzer, H. ; Damman, M. ; Mikulla, M. ; Poprawe, R. ; Weimann, G.
出版情報: Test and measurement applications of optoelectronic devices : 21-22 January 2002, San Jose, USA.  pp.1-8,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4648
3.

国際会議録

国際会議録
Sah, R.E. ; Rinner, F. ; Keifer, R. ; Mikulla, M. ; Weimann, G.
出版情報: Plasma processing XIV : proceedings of the international symposium.  pp.35-42,  2002.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-17
4.

国際会議録

国際会議録
Kelemen, M.T. ; Weber, J. ; Rinner, F. ; Rogg, J. ; Mikulla, M. ; Weimann, G.
出版情報: Laser Diodes, Optoelectronic Devices, and Heterogenous Integration.  pp.252-260,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4947
5.

国際会議録

国際会議録
Tomm, J.W. ; Rinner, F. ; Rogg, J. ; Thamm, E. ; Ribbat, C. ; Sellin, R. ; Bimberg, D.
出版情報: High-Power Fiber and Semiconductor Lasers.  pp.91-98,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4993